Назначение.

Выявление поверхностных и подповерхностных дефектов в изделиях из ферромагнитных материалов с относительной максимальной магнитной проницаемостью не менее 40 магнитопорошковым или магнитолюминисцентным методом.
Дефектоскоп позволяет контролировать различные по форме детали, сварные швы, внутренние поверхности отверстий, путём намагничивания отдельных контролируемых участков или изделия в целом циркулярным или продольным полем, создаваемым с помощью набора намагничивающих устройств, питаемых импульсами тока (электроконтакты, гибкий кабель), а также постоянным током (электромагнит, соленоид).
Дефектоскоп обеспечивает размагничивание деталей после контроля.

Технические характеристики.

Напряжённость магнитного поля электромагнита A/m: 0...16000 .
Напряжённость магнитного поля соленоида A/m : 0...16000 .
Амплитуда тока в импульсе A : 1000 .
Питание:
от сети переменного тока частотой 50Hz : 220 .
от источника постоянного тока амплитуда тока в импульсе : 24 .
Габаритные размеры mm : 660x500x260 .
Масса:
дефектоскопа kg : 48 .
принадлежностей kg : 30.
Температура окружающего воздуха оC -30...+50